2021-8-2 15:06| 发布者: 狮子| 查看: 2772| 评论: 0
化学机械平坦化或化学机械抛光(通常缩写为CMP)是一种广域平坦化技术。 在使用研磨液的情况下,施压的同时通过硅片和抛光片之间的相对运动使硅片表面平坦化。隔膜或膜盒泵产生的高剪切力输送研磨液导致微粒凝聚。 源自这些过大颗粒或微粒凝聚体的微划痕是CMP期间产生瑕疵的最重要原因之一。
LEVITRONIX公司无轴承泵因其低剪切力设计可将CMP应用中产生的微划痕减少80%之多,因此会显著增加您的产量!
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